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nanoandmore/HQ:NSC36/Al BS/HQ:NSC36/Al BS-200/Box of 200 AFM Probes
来自 : 发布时间：2025-01-29

Applications:

Force Modulation (FM) AFM ProbesNon-Contact / Soft Tapping Mode AFM Probes

Description:

Probes of the 36 series have three different force modulation mode cantilevers on one side of the holder chip. They can be used in various applications. Backside Al coated. Coating thickness - 30 nm.

AFM Tip:

  • shape: Rotated
  • height: 15 µm (12 - 18 µm)*
  • radius:
  • full cone angle: 40°

    • AFM Cantilevers:

    Cantilever A
  • shape: Beam
  • length: 110 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 1 N/m (0.1 - 4.6 N/m)*
  • resonance frequency: 90 kHz (30 - 160 kHz)*
    • Cantilever B
  • shape: Beam
  • length: 90 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 2 N/m (0.2 - 9 N/m)*
  • resonance frequency: 130 kHz (45 - 240 kHz)*
    • Cantilever C
  • shape: Beam
  • length: 130 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 0.6 N/m (0.06 - 2.7 N/m)*
  • resonance frequency: 65 kHz (25 - 115 kHz)*
    • * typical range

    本文链接： http://nanoandmore.immuno-online.com/view-1537589758.html

    发布于 ： 2025-01-29 阅读（）
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    公司介绍
    AFM 探针规格范围在 NanoAndMore 投资组合中1原子力显微镜提示曲率半径： 1 - 20000 纳米高度： 2 - 50 微米2 AFM 悬臂共振频率： 6 - 5000 kHz力常数： 0.01 - 2000 牛/米长度： 7 - 500 微米宽度： 0.8 - 120 微米厚度： 0.08 - 7 µm
    品牌分类
    标准攻丝式原子力显微镜探头 功能化化学修饰AFM探针 取液模式AFM探头 接触式原子力显微镜探头 MFM-AFM探头磁力 预装AFM探头 LFM-AFM探针横向力显微镜 高原纳米力学AFM探针 扫描热显微镜AFM探针
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