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新闻详情
nanoandmore/HQ:CSC38/tipless/Al BS/HQ:CSC38/tipless/Al BS-50/Box of 50 AFM Probes
来自 : 发布时间：2025-01-15

Applications:

Tipless AFM Cantilevers and Cantilever Arrays

Description:

Probes of the 38/tipless series have three different tipless contact mode cantilevers on one side of the holder chip. They can be used in various applications. Backside Al coated. Coating thickness - 30 nm.

AFM Tip:

  • shape: Tipless

    • AFM Cantilevers:

    Cantilever A
  • shape: Beam
  • length: 250 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 0.09 N/m (0.01 - 0.36 N/m)*
  • resonance frequency: 20 kHz (8 - 32 kHz)*
    • Cantilever B
  • shape: Beam
  • length: 350 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 0.03 N/m (0.003 - 0.13 N/m)*
  • resonance frequency: 10 kHz (5 - 17 kHz)*
    • Cantilever C
  • shape: Beam
  • length: 300 µm
  • width: 32.5 µm
  • thickness: 1 µm
  • force constant: 0.05 N/m (0.005 - 0.21 N/m)*
  • resonance frequency: 14 kHz (6 - 23 kHz)*
    • * typical range

    本文链接： http://nanoandmore.immuno-online.com/view-1534398913.html

    发布于 ： 2025-01-15 阅读（）
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    公司介绍
    AFM 探针规格范围在 NanoAndMore 投资组合中1原子力显微镜提示曲率半径： 1 - 20000 纳米高度： 2 - 50 微米2 AFM 悬臂共振频率： 6 - 5000 kHz力常数： 0.01 - 2000 牛/米长度： 7 - 500 微米宽度： 0.8 - 120 微米厚度： 0.08 - 7 µm
    品牌分类
    标准攻丝式原子力显微镜探头 功能化化学修饰AFM探针 取液模式AFM探头 接触式原子力显微镜探头 MFM-AFM探头磁力 预装AFM探头 LFM-AFM探针横向力显微镜 高原纳米力学AFM探针 扫描热显微镜AFM探针
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