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主营:主营类目:AFM探针、 AFM配件、SEM相关产品、仪器
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当前位置: 首页 > 产品中心 > Primer_Probe > nanoandmore/HQ:DPER-XSC11/HQ:DPER-XSC11-50/盒50个AFM探针
商品详细nanoandmore/HQ:DPER-XSC11/HQ:DPER-XSC11-50/盒50个AFM探针
nanoandmore/HQ:DPER-XSC11/HQ:DPER-XSC11-50/盒50个AFM探针
nanoandmore/HQ:DPER-XSC11/HQ:DPER-XSC11-50/盒50个AFM探针
商品编号: HQ:DPER-XSC11-50
品牌: NanoAndMore
市场价: ¥18298.80
美元价: 14076.00
产地: 美国(厂家直采)
公司:
产品分类: 引物与探针
公司分类: Primer_Probe
联系Q Q: 3392242852
电话号码: 4000-520-616
电子邮箱: info@ebiomall.com
商品介绍

Applications:

Conductive AFM Probes

Description:

Probes of the 11 series have four different cantilevers, two on each side of the holder chip. They can be used in various applications.

The DPER probes are made by depositing a thin metal coating on Si tips. The thickness of the coating on the flat cantilever surface is about 15 nm, resulting in a coated tip radius below 20 nm. The probes can be used for imaging samples with higher resolution in XY directions.
The DPER probes are made by depositing a thin Pt coating on both sides of the Si cantilevers. The thickness of the coating on the flat cantilever surface is about 15 nm.

AFM Tip:

  • Rotated
  • 15 µm (12 - 18 µm)*
  • < 20="" nm="">
  • 40°
  • AFM Cantilevers:

    Cantilever A
  • Beam
  • 500 µm
  • 30 µm
  • 2.7 µm
  • 0.2 N/m (0.1 - 0.4 N/m)*
  • 15 kHz (12 - 18 kHz)*
  • Cantilever B
  • Beam
  • 210 µm
  • 30 µm
  • 2.7 µm
  • 2.7 N/m (1.1 - 5.6 N/m)*
  • 80 kHz (60 - 100 kHz)*
  • Cantilever C
  • Beam
  • 150 µm
  • 30 µm
  • 2.7 µm
  • 7 N/m (3 - 16 N/m)*
  • 155 kHz (115 - 200 kHz)*
  • Cantilever D
  • Beam
  • 100 µm
  • 50 µm
  • 2.7 µm
  • 42 N/m (17 - 90 N/m)*
  • 350 kHz (250 - 465 kHz)*
  • * typical range
    品牌介绍
    AFM 探针规格范围在 NanoAndMore 投资组合中1原子力显微镜提示曲率半径: 1 - 20000 纳米高度: 2 - 50 微米2 AFM 悬臂共振频率: 6 - 5000 kHz力常数: 0.01 - 2000 牛/米长度: 7 - 500 微米宽度: 0.8 - 120 微米厚度: 0.08 - 7 µm3支撑芯片(搬运)方面: 1.6 毫米 x 3.4 毫米* 上述属性范围以及 AFM 探针指南包括 NANOSENSORS™ 特殊开发列表 AFM 探针,这些 AFM 探针可能未列在 NanoAndMore 上的常规 AFM 探针范围内。如果您无法通过搜索字段找到您正在寻找的 AFM 探针,请与我们联系 - 我们将很乐意为您提供帮助!