NanoAndMore/300-2D校准标准-NanoAndMore/300-2D
商品编号：
300-2D
品牌：
NanoAndMore
市场价：
¥19200.00
美元价：
11520.00
产品分类：
引物与探针
公司分类：
Primer_Probe
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商品介绍
300-2DCalibration specimen, 2-dimensional, 297 nm nominal period, Aluminum bumps on SiProduct Description300-2D Calibration specimen, 2-dimensional, 297 nm nominal period (refer to certificate for actual period), Aluminum bumps on SiSubstrate: Silicon about 4x3 mmDefault mounting: on 12 or 15 mm diam. steel diskAvailable unmounted on requestAvailable mounted on SEM stub (300-2D-SEM)Default mounting: on pin stub type A using colloidal graphite paint. Colloidal silver paint or adhesive carbon tab available on request. Carbon tab not recommended for pitch < 500 nm.See mount descriptions.
品牌介绍
AFM 探针规格范围在 NanoAndMore 投资组合中1原子力显微镜提示曲率半径： 1 - 20000 纳米高度： 2 - 50 微米2 AFM 悬臂共振频率： 6 - 5000 kHz力常数： 0.01 - 2000 牛/米长度： 7 - 500 微米宽度： 0.8 - 120 微米厚度： 0.08 - 7 µm3支撑芯片（搬运）方面： 1.6 毫米 x 3.4 毫米* 上述属性范围以及 AFM 探针指南包括 NANOSENSORS™ 特殊开发列表 AFM 探针，这些 AFM 探针可能未列在 NanoAndMore 上的常规 AFM 探针范围内。如果您无法通过搜索字段找到您正在寻找的 AFM 探针，请与我们联系 - 我们将很乐意为您提供帮助！
