NanoAndMore/TGX校准标准-NanoAndMore/TGX
商品编号：
TGX
品牌：
NanoAndMore
市场价：
¥4000.00
美元价：
2400.00
产品分类：
引物与探针
公司分类：
Primer_Probe
联系Q Q：
3392242852
电话号码：
4000-520-616
电子邮箱：
info@ebiomall.com
商品介绍
TGXGrating with Undercut Edge Structures for Lateral Calibration and Tip Aspect Ratio DeterminationProduct Description
The silicon calibration grating from the TGX series is an array of square holes with sharp undercut edges formed by anisotropic etching along the (111) crystallographic planes of silicon. The typical radius of the edges is less than 5 nm.
- pitch 3 µm, accuracy 0.1 µm
- edge radii < 5 nm
- step height ~ 1 µm (approximate value, not for vertical calibration purposes)
- active area 1 x 1 mm
- chip dimensions 5 x 5 x 0.3 mm
- available mounted on 12 mm plate (TGX) or unmounted (TGX/NM)
The TGX calibration gratings are intended for:
- determination of the tip aspect ratio
- lateral calibration of SPM scanners
- detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects
For accurate quantification of images of calibration gratings from the TGX series, we recommend using the Scanning Probe Image Processor (SPIP) designed by Image Metrology.
品牌介绍
AFM 探针规格范围在 NanoAndMore 投资组合中1原子力显微镜提示曲率半径： 1 - 20000 纳米高度： 2 - 50 微米2 AFM 悬臂共振频率： 6 - 5000 kHz力常数： 0.01 - 2000 牛/米长度： 7 - 500 微米宽度： 0.8 - 120 微米厚度： 0.08 - 7 µm3支撑芯片（搬运）方面： 1.6 毫米 x 3.4 毫米* 上述属性范围以及 AFM 探针指南包括 NANOSENSORS™ 特殊开发列表 AFM 探针，这些 AFM 探针可能未列在 NanoAndMore 上的常规 AFM 探针范围内。如果您无法通过搜索字段找到您正在寻找的 AFM 探针，请与我们联系 - 我们将很乐意为您提供帮助！
